Верхнее
Главное
Контакты
English
Поиск
Искать...
Главное
Справочник
Учредительные документы ДВО РАН
Институты и вузы
Информационные ресурсы
Нормативные документы
Профсоюз
Медали и премии
Сотрудничество
НИСО
Вестник ДВО РАН
ДВ ученый
ВЫБОРЫ В РАН 2025
Архив новостей
Декабрь, 2024
Ноябрь, 2024
Октябрь, 2024
Сентябрь, 2024
Август, 2024
Июль, 2024
Июнь, 2024
Май, 2024
Апрель, 2024
Март, 2024
Февраль, 2024
Январь, 2024
Ссылки
Главное
ОБОРУДОВАНИЕ ФИРМЫ JEOL
Опыт JEOL
Сверхвысокоразрешающие ПЭМ
ЭДС-анализ с атомным разрешением
Крио-микроскопия
Сверхвысокоразрешающий ПЭМ JEM-ARM200F
100,200 и 300 кВ ПЭМ JEOL
Растровые электронные микроскопы
Настольный РЭМ NEOSCOPE JCM-5000
Автоэмиссионные РЭМ
Растровые микроскопы с термополевой эмиссией
Примеры изображений
РЭМ серии JSM-6510/6610
Приборы серии JSM-6510
Примеры изображений
Приставки для РЭМ
Электронно-ионные системы JIB
Растровые электронные микроскопы. Принцип работы
Пробоподготовка для РЭМ
Аналитическое оборудование:
Спектрометры ЯМР
Масс-спектрометры
Спектрометр ЭПР