Главное

Приставки для РЭМ JSM-6x10
-
Элементный анализ с помощью ЭДС (OXFORD INCA Energy)
-
Количественный анализ легких элементов с помощью ВДС (OXFORD INCA Wave)
-
Изучение ориентации микрокристаллов с помощью системы регистрации картин ДОРЭ (OXFORD HKL)
-
Приставки для механических испытаний (GATAN)
-
Приставки для термических испытаний (JEOL, GATAN, DEBEN)
-
Катодолюминесцентные приставки и приставки для изучения образцов в режиме наведенного тока (GATAN) и многие другие