Главное

Приставки для РЭМ JSM-6x10

    • Элементный анализ с помощью ЭДС (OXFORD INCA Energy)
    • Количественный анализ легких элементов с помощью ВДС (OXFORD INCA Wave)
    • Изучение ориентации микрокристаллов с помощью системы регистрации картин ДОРЭ (OXFORD HKL)
    • Приставки для механических испытаний (GATAN)
    • Приставки для термических испытаний (JEOL, GATAN, DEBEN)
    • Катодолюминесцентные приставки и приставки для изучения образцов в режиме наведенного тока (GATAN) и многие другие
© Дальневосточное отделение Российской академии наук

Количество посещений

Информация о сайте ДВО РАН