Для самых взыскательных пользователей
В лаборатории микро- и наноисследований ЦКП ДВГИ ДВО РАНвведен в работу двухлучевой сканирующий электронный микроскоп нового поколения LYRA 3 XMH (TESCAN) для исследования морфогенетических и вещественных характеристик минеральных образований и искусственных материалов различного состава и изделий из них.
В этом SEM-FIB микроскопе для исследовательской работы и высокотехнологичного применения реализовано удобное сочетание автоэмиссионного электронного микроскопа высокого разрешения (катод Шоттки и уникальная трехлинзовая электронная оптика) и ионной колонны (FIB) с уникальной оптикой и с жидкометаллическим источником ионов галлия для микро/нано модификации поверхности образцов.
Оснащенность SEM-FIB энергодисперсионным спектрометром для электронно-зондового элементного анализа (детектирование от бериллия до калифорния) Automated AZtecEnergy X-Max80 превращает этотединственный на Дальнем Востоке двухлучевой сканирующий электронный микроскоп в аналитический прибор для самых взыскательных пользователей.
В качестве примера приведен результат использования с помощью этого прибора ионной резки изделия для характеристики состава субмикронных двухслойных покрытий на гаечных ключах.