Главное

Подробности

Опубликовано 29.11.2011 12:10

• Приставка для вращения образца
• Высокотемпературная приставка
• Вакуумный модуль
• Автосменщик образцов
• Держатель капиллярных образцов
• Приставка для анализа текстур, остаточных напряжений и тонких пленок
• Дифференциальный сканирующий калориметр
• Модуль исследования наночастиц 1-100 нм (определение формы, внутренней структуры, отношения величины поверхности к объему, распределения по размеру, пористости)